珍珠内部结构无损检测可以进行

翠花

        众所周知，人们欣赏珍珠主要是从外观上看珍珠的外在美，如看珍珠的颜色、光泽、圆度、规格大小以及光洁度。如果想深入了解珍珠的内部结构，通常则要通过打孔或解剖的方式才能看到。随着全球高新技术的迅猛发展，使得X射线技术和光学相干层析成像技术的新成果得以延伸进入珍珠检测领域。笔者经过反复的研究和验证证实，采用X射线和光学相干层析成像技术，可以对珍珠内部结构进行无损检测，从而解决了长期以来“珍珠鉴定和定量检测”上的疑难问题。为此，笔者把这两种新方法增补进了国家标准（GB/T18781-2008《珍珠分级》）中。

       



        一、新方法介绍

        1.X射线法

        1.1方法原理

        采用X射线透视技术拍摄得到直观的珍珠内部结构图像，通过分析珍珠内部组成特征，对珍珠进行定性分析，确定有核珍珠与无核珍珠，利用计算机技术确定被检样品的珠层厚度。

        1.2测量仪器

        X射线

        1.3珠层厚度检测操作步骤

        将被检样品放入X射线仪载物台，拍摄被检样品图像，利用计算机技术确定被检样品的珠层厚度。至少选择两个穿过珍珠几何中心的剖面方向进行测量，取其平均值，确定珠层厚度级别。

        2.光学相干层析法

        2.1方法原理

        利用光学干涉原理，使珍珠珠层内部的背向散射光与参考光发生干涉，通过探测干涉信号来检测有核珍珠的珠层厚度。同时，通过扫描可以得到直观的珠层图像对珍珠进行定性分析。

        2.2测量仪器

        光学相干层析（OCT）仪

        2.3珠层厚度检测操作步骤

        将被检样品放置在样品台上，调焦，利用光学相干层析系统获得珠层图像，确定被检样品的珠层厚度。至少选择两个穿过珍珠几何中心的扫描剖面进行测量，获得每个扫描剖面上珍珠层的3个最大厚度和3个最小厚度，取其平均值，确定珠层厚度级别。

        二、新方法成像特点

        1.采用X射线法检测，可直观、快速看到珍珠内部结构照片全图图像。

        2.采用光学相干层析法检测可方便、直观、快速看到珍珠内部结构照片局部图像。

        3.两种新方法均可根据珍珠内部结构图片成像特征，对有核珍珠与无核珍珠进行定性鉴定。

        4.利用计算机技术可确定珠层厚度，两种新方法准确度≤0.02mm。

        三、结语

        采用这两种新方法检测珍珠，具有无损、方便、直观、快速、准确度高等特点，值得推广应用。